平成１３年６月２２日

NBI３号機ギャップ短絡試験のノイズ測定

LABCOM

　平成１３年６月１３日（水）と１４日（木）に実施されたNBI３号機ギャップ短絡試験のときにデータを収集してデータに入るノイズを調べた。

信号経路

　　Dステージ下の銅ダクトからカマック室のAurora14モジュール

銅ダクトの端子に以下ものを接続した。

１．       １０メートルの同軸ケーブルの先にファンクションジェネレータ

２．       ２メートルの同軸ケーブルの先端を５０Ω終端

３．       銅ダクトの端子を５０Ω終端

４．       ２メートルの同軸ケーブルの先端を開放

５．       銅ダクトの端子を開放

結果

１．       のみデータにノイズが認められた。

つまり、信号線へのノイズの影響は認められず、ファンクションジェネレータの電源からのノイズの影響があったと思われる。

ノイズの影響の見られる時間は１５～５０μ秒

データ上のノイズの振幅は最大０．３２Ｖｐｐ

データ上のノイズの振幅が最大であったときのデータを示す。

このときの設定電圧は－１７０ｋＶでブレークダウン回数は９回